foerster探傷儀用探頭6.145.01-7028

TIEDE渦流探傷儀MP -1，20A/cm 133 010

TIEDE磁粉探傷檢測(cè)儀MP-1, 5 A/cm 133 011

foerster探傷儀用探頭PART NO.6.461.01-2050 1660870

foerster探傷儀用探頭6.145.01-7028

rohmann探傷儀探頭600217 KDS 2-2 Metall

rohmann探傷儀探頭KDS 2-2 Metall

GE探傷儀用探頭ROWA R72-T60 7,5B1Z

ROLAND渦流探傷儀用探頭EC12x30IT10-100-S

foerster探傷儀用探頭6.145.01-7028

rohmann探傷儀探頭KDS 2-2 Metall

foerster探傷儀用探頭PART NO.6.461.01-2050 1660870

foerster探傷儀用探頭6X7.5MM DIP-ARRAY / Order number: 1951700

Fiessler Elektronik金屬探傷儀GLSL 250

pruftechnik探傷儀用探頭LABV656C-6N52 (s-nr:1231498)

PROMESS探傷儀用探頭IM42-H13; φ4,8 plan

交變場(chǎng)漏磁通法的工作原理

交流漏磁測(cè)試

交流磁場(chǎng)或交流漏磁測(cè)試使用兩個(gè)環(huán)繞的磁軛，交流電流流過這些磁軛。這些磁軛在橫向非接觸式地磁化測(cè)試材料。磁通量集中在材料表面上，因此對(duì)于從大約 100 到 100 米的微米級(jí)表面缺陷的檢測(cè)特別敏感。 100 µm 深。軛和測(cè)試材料之間的距離是幾毫米。在軛腿之間有帶有受保護(hù)探針的測(cè)試鞋，這些探針通過接觸掃描表面。

間歇工作的探頭在任何時(shí)候都只能檢測(cè)到整個(gè)表面的一小部分。因此，非常小的材料缺陷會(huì)在比例方面產(chǎn)生很大的干擾。在無缺陷材料的情況下，磁通量在材料中產(chǎn)生閉合電路。

實(shí)際漏磁通在暴露缺陷處產(chǎn)生。磁軛的頻率設(shè)置得越高，磁化電流越靠近表面流動(dòng)（趨膚效應(yīng)）。在材料中的缺陷處，磁通量從缺陷上方的材料表面出現(xiàn)。這被稱為漏磁通，最終可以被視為用戶界面上的信號(hào)。

恒定場(chǎng)漏磁通法的工作原理

直流漏磁通測(cè)試

恒定磁場(chǎng)或直流漏磁通方法使整個(gè)材料橫截面磁化。 這使得檢測(cè)管內(nèi)表面和外表面的缺陷成為可能。 內(nèi)部缺陷的檢測(cè)隨著壁厚的增加而減少。

磁通量由兩個(gè)旋轉(zhuǎn)磁軛組成，用于檢測(cè)縱向缺陷（見左圖）。 發(fā)生在缺陷位置的漏磁通由旋轉(zhuǎn)磁場(chǎng)傳感器捕獲。

磁通量由縱向排列的兩個(gè)固定環(huán)繞線圈產(chǎn)生，用于檢測(cè)橫向缺陷（見右圖）。 沿圓周的幾個(gè)固定磁場(chǎng)傳感器捕獲發(fā)生的漏磁通。

緊湊型移動(dòng)式裂紋測(cè)試儀

DEFECTOMETER M 1.837 非常適合所有需要移動(dòng)式裂紋測(cè)試的情況。 該裝置具有從 20 µm 開始的缺陷分辨率和眾多自動(dòng)功能。 LED 刻度讀數(shù)和 LCD 顯示屏即使在光天化日之下或*黑暗的情況下也能確保良好的易讀性。 35 小時(shí)的超長(zhǎng)使用壽命和 USB 端口使其成為手動(dòng)裂紋和硬度測(cè)試以及材料分離。

您的優(yōu)勢(shì)一目了然

高靈敏度，缺陷分辨率從 20 µm

操作簡(jiǎn)單

自動(dòng)提離、歸零和傾斜補(bǔ)償

提離探頭警告

LED 刻度顯示和 LCD 顯示的易讀性非常好

帶激活背光的 35 小時(shí)運(yùn)行

USB 端口用于測(cè)量結(jié)果的可視化和記錄

可以使用早期 DEFECTOMETER 的探頭